|
台式扫描电子显微镜 TM4000II/TM4000PlusII可在低真空的条件下进行二次电子像（表面形状）观察。无需预处理，也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。 
收藏
商品说明
观察图像3分钟。可迅速获得所需数据，并制作报告。 观察与分析的灵活性自动获取各类数据。快速切换！  可快速获得元素分布图 *2  *1TM4000PlusⅡ的功能。 *2选配 使用Camera Navi*的话，就是如此简单Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察  *选配：Camera Navi系统 操作简单且快捷观察图像只需 3 分钟。 Report Creator可让您轻松制作报告只需选择图像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告  即便是绝缘物样品，也无需预处理，就可直接进行观察。“荷电减轻模式”可抑制荷电现象对于容易产生荷电的样品，可使用“荷电减轻模式”，在抑制荷电的状态下进行观察。  可在低真空的条件下进行多种观察对于容易产生荷电的粉末或含水等样品，可结合其目的进行观察。  可在低真空的条件下进行二次电子像（表面形状）观察。无需预处理，也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。 高感度低真空二次电子检测器采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光，可以观察带有二次电子信息的图像。此外，通过控制该检测器，来检测电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL：带有CL信息的图像）。  可支持加速电压20 kVTM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。 通过加速电压20 kV，实现EDS元素分布图的高S/N化 Multi Zigzag（选配）可实现在广域范围内进行SEM观察。  EM 样品台（选配）可轻松观察 STEM 图像与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用，可轻松观察小倍率 STEM 图像。 应用实例展示请参阅各个领域的观察实例。 规格 |
